AEC-Q100认证测试流程

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AEC-Q100认证测试流程

AEC-Q100是AEC的第一个标准,AEC-Q100于1994年6月首次发表,现经过了十多年的发展,AEC-Q100已经成为汽车电子系统中集成电路评价的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q100也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。

AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认,特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

 


序号测试项目缩写检测方法
A组 加速环境应力测试
A1预处理PCJ-STD-020
JESD22-A113
A2有偏温湿度或有偏高加速应力测试THB/HASTJESD22-A101
JESD22-A110
A3高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试AC/ UHST /THJESD22-A102
JESD22-A118
JESD22-A101
A4温度循环TCJESD22-A104
A5功率负载温度循环PTCJESD22-A105
A6高温储存寿命测试HTSLJESD22-A103
B组 加速寿命模拟测试
B1高温工作寿命HTOLJEDEC JESD22-A108
B2早期寿命失效率ELFRAEC Q100-008
B3非易失性存储器耐久EDRAEC Q100-005
C组 封装组合完整性测试
C1绑线剪切WBSAEC Q100-001
C2绑线拉力WBPMIL-STD 883 Method2011
C3可焊性SDJESD22-B102
C4物理尺寸PDJESD22-B100
JESD22-B108
C5锡球剪切SBSAEC Q100-010
C6引脚完整性LIJESD22-B105
D组 芯片晶元可靠度测试
D1电迁移EM/
D2经时介质击穿TDDB/
D3热载流子注入HCI/
D4负偏压温度不稳定性NBTI/
D5应力迁移SM/
E组 电气特性确认测试
E1应力测试前后功能参数测试TEST规格书
E2静电放电(HBM)HBMAEC-Q100-002
E3静电放电(CDM)CDMAEC-Q100-011
E4闩锁效应LUAEC-Q100-004
E5电分配EDAEC-Q100-009
E6故障等级FGAEC-Q100-007
E7特性描述CHARAEC-Q003
E9电磁兼容EMCSAE JI752/3
E10短路特性描述SCAEC-Q100-012
E11软误差率SERJESD89-1
JESD89-2
JESD89-3
E12无铅(Pb)LFAEC-Q005
F组 缺陷筛选测试
F1过程平均测试PATAEC-Q001
F2统计良率分析SBAAEC-Q002
G组 腔体封装完整性测试
G1机械冲击MSJESD22-B104
G2变频振动VFVJESD22-B103
G3恒加速CAMIL-STD-883 Method2001
G4粗细气漏测试GFLMIL-STD-883 Method1014
G5包装跌落DROP/
G6盖板扭力测试LTMIL-STD-883 Method2024
G7芯片剪切DSMIL-STD-883 Method2019
G8内部水汽含量测试IWVMIL-STD-883 Method1018

发布于 2023-08-20 11:47

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