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我国的CSK—IA试块是在IIW试块基础上改进后得到的。主要改进有:
(1)将直孔 Φ50改为 Φ50 、Φ44、Φ40 台阶孔,以便于测定横波斜探头的分辨力。
(2)将R100改为R100、R50阶梯圆弧,以便于调整横波扫描速度和探测范围。
(3)将试块标定的折射角改为K值,从而可直接测出横波斜探头的K值。
德国和日本,在R100圆心处两侧加开宽为0.5,深为2的沟槽,皆宜获得R100圆弧面的多次反射,克服了IIW试块调整横波探测范围和扫描速度不便的特点。
这家伙很懒,还没有设置简介
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