天平的自校程序可能与外校程序（211.68）并不矛盾。我们推荐对于具有内置式自校程序的天平，其外校仍应周期进行，但校正频次可以比无自校程序的天平低。其校正频次取决于天平的使用频率，和工艺或分析步骤的关键性和允许误差。注意对自校程序的检查显示的问题会对两次连续校正间所有生产的批次产生影响。另外，应采用NIST或其他可溯源标准，对自校程序进行周期校验，频次通常为一年一次。
References:参考文献
21 CFR211.68: Automatic, mechanical, and electronic equipment自动、机械和电子设备
21 CFR211.160(b)(4): General requirements (Lab Controls)通用要求（实验室控制）
USPChapter <41> Weights and Balances砝码和天平
See also: ASTM standard E 617: Standard Specification for Laboratory Weights and Precision Mass Standards (this standard is incorporated into the USP by reference; other widely recognized standards may be acceptable) 实验室砝码和精密重量标准的质量标准（该标准被USP采用，其它公认标准亦可以接受）
